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標(biāo)題: 尺寸公差和形位公差關(guān)系的疑惑求指教 [打印本頁]

作者: 84151341 時(shí)間: 2020-9-8 20:20
標(biāo)題: 尺寸公差和形位公差關(guān)系的疑惑求指教

如圖1的一個(gè)長方體，高度尺寸有+0.2公差，但是沒有應(yīng)用公差原則。
問題1：在實(shí)際工作中，圖1、圖2這樣的高度、直徑尺寸公差到底能不能一定程度的限制形位公差，圖1中上下表面平面度、上下兩面的平行度；圖2中圓柱素線、圓柱軸線的直線度？之前我一直覺得這樣的情況尺寸公差是可以一定程度上限制形位公差的，但圖面沒有應(yīng)用公差原則那就是獨(dú)立原則，那尺寸公差又和形位公差一點(diǎn)關(guān)系都沒有了。

問題2：無論問題1答案如何還有個(gè)疑惑的地方，假如圖1中的三個(gè)“a”尺寸都是卡尺兩點(diǎn)測量出來的，都是符合圖紙標(biāo)注的，零件通過；假如圖2中的“b”尺寸，是把該零件平放在檢測臺(tái)面用高度規(guī)測量出來的，這個(gè)尺寸已經(jīng)超標(biāo)，零件不通過。這零件合不合格和測量手段有關(guān)嗎？還是說在測量檢測學(xué)里面是有既定的規(guī)則，已經(jīng)制定了是兩點(diǎn)測量還是平臺(tái)測量的標(biāo)準(zhǔn)的？

作者: jinyongjun 時(shí)間: 2020-9-9 08:32
沒有圖可能沒法準(zhǔn)確說，但按你的描述，沒有運(yùn)用包容，最大實(shí)體等原則來看，就是獨(dú)立的，第二個(gè)問題其實(shí)就是第一個(gè)問題，測量和你用的原則有關(guān)。

作者: 84151341 時(shí)間: 2020-9-9 08:36
發(fā)帖的時(shí)候，沒有上傳截圖文件，而是直接復(fù)制到文本框里面，原來不行啊[attach]508626[/attach] [attach]508627[/attach]

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